发明名称 X線撮像装置、X線撮像方法、及び、X線撮像装置のモニタリング方法
摘要 X線源と検出素子の間にある物質の僅かな設計公差等に起因するX線の線質の変化を推定し補正する。それによってデュアルエネルギー撮影法における物質弁別能の低下を防止する。X線撮像装置100は、空気(被写体なし)を二種以上の異なる管電圧で撮影した計測データを用いて、基準線質からのずれ分を所定の基準物質の透過距離(固有ろ過)として算出する固定ろ過算出部223を備える。固定ろ過算出部は、上記計測データに対しデュアルエネルギー撮影法による基準物質透過距離変換を適用することにより、検出素子毎に、基準物質透過距離(固有ろ過)を算出する。被写体撮影時、算出した検出素子毎の固有ろ過を加味してデュアルエネルギー撮影法を実施することにより、線質の変化が補正された画像が得られる。
申请公布号 JPWO2015064446(A1) 申请公布日期 2017.03.09
申请号 JP20150544946 申请日期 2014.10.22
申请人 株式会社日立製作所 发明人 坪田 悠史;渡辺 史人;昆野 康隆;小嶋 進一;山川 恵介;黒川 眞次
分类号 A61B6/03 主分类号 A61B6/03
代理机构 代理人
主权项
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