发明名称 測定システムおよび測定方法
摘要 【課題】広い測定範囲を確保するのに有利な測定システムを提供する。【解決手段】測定システム1は、制御装置10と、第1測定器11と、第2測定器12と、切替装置13と、測定治具14とを含む。第1測定器11は、第1端子群T1を有し、第1測定方式に従って測定対象20の所定の物理量を測定する。第2測定器12は、第2端子群T2を有し、第2測定方式に従って測定対象20の所定の物理量を測定する。切替装置13は、測定治具14を、第1端子群T1または第2端子群T2に選択的に接続する。制御装置10は、切替装置13を制御して第1測定器側端子群T1を測定治具14に接続し、第1測定器11を制御して測定を実行させる。また、制御装置10は、切替装置13を制御して第2測定器側端子群T2を測定治具14に接続し、第2測定器12を制御して測定を実行させる。【選択図】図2
申请公布号 JP2017049148(A) 申请公布日期 2017.03.09
申请号 JP20150173223 申请日期 2015.09.02
申请人 株式会社クオルテック;滋賀県 发明人 中島 稔;山本 典央;平野 真
分类号 G01R27/02 主分类号 G01R27/02
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利