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发明名称
半導体装置の製造方法、基板処理装置及びプログラム
摘要
課題:基板上に形成される膜の特性を向上させる。 解決手段:シラザン結合を有する膜が形成され、膜にプリベークが施されている基板を処理容器に搬入させる工程と、基板にプリベークの温度以下の第1温度で酸素含有ガスを供給する工程と、基板に、前記第1温度よりも高い第2温度で処理ガスを供給する工程と、を有する半導体装置の製造方法等を提供する。
申请公布号
JPWO2015053121(A1)
申请公布日期
2017.03.09
申请号
JP20150541527
申请日期
2014.09.29
申请人
株式会社日立国際電気
发明人
定田 拓也;角田 徹;奥野 正久;立野 秀人
分类号
H01L21/316;C23C16/42;H01L21/31
主分类号
H01L21/316
代理机构
代理人
主权项
地址
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