发明名称 |
微細パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、及び基板処理装置並びに記録媒体 |
摘要 |
基板表側において所定の線幅のコアパターンを形成するコアパターン形成工程と、前記コアパターン形成工程で形成したコアパターンに対し、サイドウォールを形成するサイドウォール形成工程と、前記サイドウォール形成工程後に、エッチングガスを用いて、前記サイドウォールを残した状態で前記コアパターンを除去するコアパターン除去工程と、を含む微細パターン形成方法を、前記コアパターン除去工程において、前記コアパターンの除去と並行して、前記コアパターン形成工程で基板裏側に堆積した膜を除去するように構成する。 |
申请公布号 |
JPWO2015060069(A1) |
申请公布日期 |
2017.03.09 |
申请号 |
JP20150543767 |
申请日期 |
2014.09.29 |
申请人 |
株式会社日立国際電気 |
发明人 |
島本 聡;菊池 俊之;由上 二郎;廣瀬 義朗;和田 優一;金山 健司;芦原 洋司;亀田 賢治 |
分类号 |
H01L21/3065;H01L21/302;H01L21/336;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/3065 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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