| 发明名称 |
分光法を用いる識別 |
| 摘要 |
【課題】原料識別（ＲＭＩＤ）を容易にするために階層的サポートベクトルマシンクラシファイアを利用することにより、改善された分類精度を有するスペクトロメータの制御装置を提供する。【解決手段】装置は未知試料の分光測定の結果を識別する情報を受信し得る。装置は分光測定の結果及びグローバル分類モデルに基づいて未知試料の第１分類を実行し得る。装置は第１分類に基づいてローカル分類モデルを生成し得る。装置は分光測定の結果及びローカル分類モデルに基づいて未知試料の第２分類を実行し得る。装置は、第２分類の実行に基づいて未知試料と関連するクラスを識別する情報を出力し得る。【選択図】図６ |
| 申请公布号 |
JP2017049246(A) |
申请公布日期 |
2017.03.09 |
| 申请号 |
JP20160163856 |
申请日期 |
2016.08.24 |
| 申请人 |
ヴァイアヴィ・ソリューションズ・インコーポレイテッドＶｉａｖｉ Ｓｏｌｕｔｉｏｎｓ Ｉｎｃ． |
发明人 |
チャンメン ション;クリストファー ジー ピーダーソン;ペン ゾー;ラン スン |
| 分类号 |
G01N21/27;G01J3/42;G01J3/44;G01N21/35;G06N99/00 |
主分类号 |
G01N21/27 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
