| 摘要 |
【課題】 本発明により、センサ数削減による低コスト化を実現しつつ測定結果の傾向を高精度に推定することが可能な、測定システム等が提供される。【解決手段】 本実施形態に係る測定システム１（推定装置３）は、「パターン化処理」によって、センサ群５の時刻毎の測定結果から各パターンＰｔが抽出され、各時刻の測定結果が各パターンＰｔで表される分布の傾向毎に分類分けされる。次に、「センサ選定処理」によって、センサ群５の中から測定結果の分類分けに寄与の大きい選定センサ５ａを選定し、さらに「識別器生成処理」によって、選定センサ５ａの測定結果からパターンＰｔを推定する識別器６０Ｂを生成する。そして、測定システム１は、選定センサ５ａを用いて新規測定を行い、識別器６０Ｂを用いてパターンＰｔを推定する。【選択図】図３ |
