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发明名称
フォーカスリング及び基板処理装置
摘要
【課題】フォーカスリングの吸着特性を安定化させることを目的とする。【解決手段】処理容器内にて基板を載置する下部電極の周縁部に配置され、該下部電極の部材と接触するフォーカスリングであって、前記フォーカスリングの接触面は、シリコン含有材料、アルミナ(Al2O3)又は石英のいずれかで形成され、前記フォーカスリングの接触面及び前記下部電極の部材の接触面の少なくともいずれかは、0.1μm以上の表面粗さである、フォーカスリングが提供される。【選択図】図3
申请公布号
JP2017050509(A)
申请公布日期
2017.03.09
申请号
JP20150175045
申请日期
2015.09.04
申请人
東京エレクトロン株式会社
发明人
富岡 武敏;佐々木 康晴;岸 宏樹;徐 智洙
分类号
H01L21/3065
主分类号
H01L21/3065
代理机构
代理人
主权项
地址
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