发明名称 真空处理装置及其清理方法
摘要 当处理标的物在气密隔间接受例如气体处理时,反应产物会附着于隔间内壁面,隔间内之标的物固持器,和隔间角隅部分。根据本发明当清洁介质注入隔间内时反应产物经水解溶解于清洁介质。其后,清洁介质由隔间排出。然后,隔间受热并抽真空,故水蒸气排出而得预定真空度,此时处理可重新开始。因此,可删去擦拭作业。此外,残留在处理隔间角隅部分的反应产物可被去除而未生成污染粒子源,故可免除大修的需求。如此,可进行所谓的全自动清理,处理隔间无需对大气开放,故可改良通过料量。
申请公布号 TW240325 申请公布日期 1995.02.11
申请号 TW083107338 申请日期 1994.08.11
申请人 东京电子股份有限公司;富士通股份有限公司 发明人 大场隆之;村上诚志;铃木寿哉
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 康伟言 台北巿南京东路三段二四八号七楼;蔡坤财 台北巿松江路一四八号十二楼之三
主权项
地址 日本