发明名称 炭化珪素半導体装置
摘要 トレンチ下部に形成された保護拡散層における電界を緩和することができる炭化珪素半導体装置を提供する。第一導電型のドリフト層2aと、半導体層2内の上部に形成された第一導電型のソース領域4と、ソース領域4及びベース領域3を貫通し形成された活性トレンチ5aと、活性トレンチ5aの周囲に形成された終端トレンチ5bと、活性トレンチ5aの底面及び側面に形成されたゲート絶縁膜6と、ゲート絶縁膜6を介して活性トレンチ5a内に埋没して形成されたゲート電極7と、活性トレンチ5aの下部に形成され第二導電型の不純物濃度が第一の不純物濃度である第二導電型の保護拡散層13と、終端トレンチ5bの下部に形成され第二導電型の不純物濃度が第一の不純物濃度よりも低い第二の不純物濃度である第二導電型の終端拡散層16とを備えた炭化珪素半導体装置100とする。
申请公布号 JPWO2015049815(A1) 申请公布日期 2017.03.09
申请号 JP20150540361 申请日期 2014.06.13
申请人 三菱電機株式会社 发明人 田中 梨菜;香川 泰宏;三浦 成久;阿部 雄次;福井 裕;富永 貴亮
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L29/06;H01L29/12 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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