发明名称 半導体装置および固体撮像素子
摘要 本技術はより簡単にクラック耐性を向上させることができるようにする半導体装置および固体撮像素子に関する。半導体装置は、Si基板およびそのSi基板上に積層された配線層からなる上側基板と、Si基板およびそのSi基板上に積層された配線層からなり、上側基板と貼り合わされた下側基板とを有している。また、上側基板にはワイヤーボンディング用またはプロービング用のパッドが形成されており、そのパッドから下側基板のSi基板までの間の各配線層には、ワイヤーボンディング用またはプロービング用のパッドの角や辺部分を保護するためのパッドが放射線状に積層されて設けられている。本技術は、固体撮像素子に適用することができる。
申请公布号 JPWO2015050000(A1) 申请公布日期 2017.03.09
申请号 JP20150540449 申请日期 2014.09.19
申请人 ソニー株式会社 发明人 香川 恵永;藤井 宣年;深沢 正永;金口 時久;萩本 賢哉;青柳 健一;三橋 生枝
分类号 H01L27/00;H01L21/02;H01L21/3205;H01L21/768;H01L21/822;H01L23/522;H01L27/04;H01L27/14;H01L27/146 主分类号 H01L27/00
代理机构 代理人
主权项
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