发明名称 質量分析データ解析装置
摘要 2次元的な測定領域内の全測定点において得られたマススペクトルデータを読み込んだあと(S1)、m/z値毎に、全測定点から集めたデータに基づく画像に対し空間濃度レベル依存法等の統計的テクスチャ解析を実行し特徴量を算出する(S2〜S5)。そして、m/z値毎の特徴量からスペクトルを作成し(S6)、そのスペクトルについてピーク検出を行って強度順に所定個数のピークを解析対象ピークとして選出し、そのm/z値を求める(S7、S8)。統計的テクスチャ解析では物質の特異的な空間分布を反映した特徴量が求まるので、特異的な空間分布の解析に有用なm/z値を選出することができ、こうしたm/z値を持つデータを選択して多変量解析に供することで、質量分析イメージングデータから従来よりも有用な情報を引き出すことができる。
申请公布号 JPWO2015052842(A1) 申请公布日期 2017.03.09
申请号 JP20150541410 申请日期 2013.10.11
申请人 株式会社島津製作所 发明人 梶原 茂樹;森永 浩子
分类号 G01N27/62 主分类号 G01N27/62
代理机构 代理人
主权项
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