发明名称 放射線の測定方法およびこれに使用する金属ナノ粒子複合体
摘要 本発明の放射線の測定方法は、イオン化放射性物質が放出する直接電離性放射線の測定方法であり、以下の工程を含む。(1)サイズが変化することにより色が変化する金属ナノ粒子(1)を、金属酸化物粒子(2)の表面に担持してなる金属ナノ粒子複合体(3)を準備する工程(2)イオン化放射性物質(4)を含む測定試料水溶液に金属ナノ粒子複合体(3)を浸漬することにより、金属ナノ粒子複合体(3)の周囲にイオン化放射性物質(4)の拡散電気二重層(5)を形成させて金属ナノ粒子複合体(3)の周囲におけるイオン化放射性物質(4)の濃度を高める工程(3)イオン化放射性物質(4)が放出する上記直接電離性放射線の電離作用により生成したイオンペアによって、金属ナノ粒子(1)の表面電荷を中和して金属ナノ粒子(1)の表面電位を上げることにより、金属ナノ粒子(1)をイオン化させて金属ナノ粒子(1)の上記サイズを変化させる工程(4)上記サイズの変化による金属ナノ粒子(1)が発する色の変化により、上記測定試料水溶液中のイオン化放射性物質(4)が放出する上記直接電離性放射線を検出する工程
申请公布号 JPWO2015068478(A1) 申请公布日期 2017.03.09
申请号 JP20150546333 申请日期 2014.09.22
申请人 富士電機株式会社 发明人 足立 榮希
分类号 G01T1/02;B82Y15/00;G01T1/04;G01T1/167;G01T7/00 主分类号 G01T1/02
代理机构 代理人
主权项
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