| 发明名称 |
INCIRCUIT FUNCTION TESTING APPARATUS AND METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH01292269(A) |
申请公布日期 |
1989.11.24 |
| 申请号 |
JP19890083861 |
申请日期 |
1989.03.31 |
| 申请人 |
HEWLETT PACKARD CO <HP> |
发明人 |
UEIN AARU CHIZUMU;RARII JII SUMEINZU |
| 分类号 |
G01R31/00;G01R27/28;G01R31/28;G01R31/316 |
主分类号 |
G01R31/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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