发明名称 一种非易失性存储器测试装置及其测试方法
摘要 本发明提供了一种非易失性存储器测试装置及其测试方法,所述测试装置包括通信接口、单片机、地址锁存器,单片机包括第一数据引脚和第二数据引脚,地址锁存器包括输入端和输出端,地址锁存器的输入端与第一数据引脚连接,地址锁存器的输出端接至第一存储器和第二存储器的输入端,第二数据引脚接至第一存储器和第二存储器的输出端,单片机包括第八引脚和第九引脚,第八引脚接至第一存储器的供电引脚,第九引脚接至第二存储器的供电引脚,第八引脚和第一存储器的供电引脚之间连接有第一三极管,第九引脚和第二存储器的供电引脚之间连接有第二三极管。本发明提供的非易失性存储器测试装置,其可以对存储器进行掉电测试,能够检测出掉电丢失数据的情况。
申请公布号 CN104217767B 申请公布日期 2017.05.03
申请号 CN201410415689.4 申请日期 2014.08.21
申请人 广州地铁集团有限公司 发明人 金文涛;夏耀天;陈智华;林惠汉;游高祥;李天明;陈威;李晓威;崔佐明;李元盛
分类号 G11C29/56(2006.01)I 主分类号 G11C29/56(2006.01)I
代理机构 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 代理人 罗毅萍
主权项 一种非易失性存储器测试装置,其特征在于:包括通信接口、单片机、地址锁存器,所述通信接口与单片机通信连接,所述单片机与所述地址锁存器通信连接,所述地址锁存器分别与待测试的第一存储器和第二存储器通信连接,所述第一存储器与第二存储器与所述单片机通信连接,所述单片机还分别与所述第一存储器和第二存储器的供电引脚连接,所述单片机与第一存储器的供电引脚之间连接有第一三极管,所述第一三极管的基极与单片机连接,集电极与5V供电电池连接,发射极与第一存储器的供电引脚连接,所述单片机和第二存储器的供电引脚之间连接有第二三极管,所述第二三极管的基极与单片机连接,集电极与5V供电电池连接,发射极与第二存储器的供电引脚连接,所述单片机还分别与第一存储器和第二存储器的片选引脚连接,所述单片机与所述第一存储器的片选引脚的交点以及所述单片机与所述第二存储器的片选引脚的交点还分别与片选开关的选择端连接,所述片选开关的控制端接地。
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