发明名称 一种ZnO/NiO异质结构有序多孔薄膜及其制备方法
摘要 本发明属于半导体技术领域,具体涉及一种ZnO/NiO异质结构有序多孔薄膜及其制备方法。本发明要解决的技术问题是为半导体材料提供一种新选择。本发明的技术方案是一种ZnO/NiO异质结构有序多孔薄膜,包括导电衬底和生长在导电衬底上的异质结构;所述异质结构是由自下而上依次生长在衬底上的p型NiO有序多孔薄膜和n型ZnO有序多孔薄膜所构成。本发明还提供了ZnO/NiO异质结构有序多孔薄膜的制备方法。本发明ZnO/NiO异质结构有序多孔薄膜可广泛地用于紫外探测器、发光二极管和阻变存储器等领域。
申请公布号 CN104465987B 申请公布日期 2017.05.03
申请号 CN201410653509.6 申请日期 2014.11.14
申请人 西南大学 发明人 赵建伟;秦丽溶;贾小亚;杨彩风
分类号 H01L45/00(2006.01)I;H01L33/02(2010.01)I;H01L31/109(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I;H01L31/18(2006.01)I;C23C28/04(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 重庆华科专利事务所 50123 代理人 康海燕;吴兴伟
主权项 一种ZnO/NiO异质结构有序多孔薄膜,其特征在于:包括导电衬底和生长在导电衬底上的异质结构;所述异质结构是由自下而上依次生长在衬底上的p型NiO有序多孔薄膜和n型ZnO有序多孔薄膜所构成;所述p型NiO有序多孔薄膜和n型ZnO有序多孔薄膜的孔均为碗状半封闭结构,且在二维平面内呈六方周期排列;所述孔的直径均为200~500nm,孔间距均为500nm,所述n型ZnO有序多孔薄膜致密连续,膜层厚度一致;所述ZnO/NiO异质结构有序多孔薄膜的厚度为100~400nm。
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