发明名称 一种用于多通道原子荧光光度计的光学和检测系统
摘要 本实用新型涉及原子荧光光度计技术领域,尤其是一种用于多通道原子荧光光度计的光学和检测系统,包括激发光源、照明透镜、接收透镜、原子化器、反射镜、光电倍增管探测器、滤光片、半导体探测器、信号采集处理部分,在原子化器处激发被测元素的原子荧光,产生的原子荧光信号经过接收透镜的汇聚,光束穿过原子化器后被反射镜反射,光电倍增管探测器和半导体检测器输出的电信号由信号采集处理部分进行采集和处理,信号采集处理部分包含双通道同时采样的模数转换芯片和数字控制芯片。本实用新型能够严格同步进行采样并转换成为数字信号,保证两者最佳的相关性,且保证了多通道监测的一致性,并简化了系统配置。
申请公布号 CN206146837U 申请公布日期 2017.05.03
申请号 CN201621210207.2 申请日期 2016.11.09
申请人 北京中和测通仪器有限责任公司 发明人 王大千;耿俊清;江海文;刘新全;吴继明;李海明
分类号 G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种用于多通道原子荧光光度计的光学和检测系统,其特征在于:包括激发光源(1,9)、照明透镜(2,10)、接收透镜(4)、原子化器(3)、反射镜(6,11)、光电倍增管探测器(5)、滤光片(7)、半导体探测器(8)、信号采集处理部分(12),激发光源(1,9)发出的光束,经过照明透镜(2,10)的汇聚,在原子化器(3)处激发被测元素的原子荧光,产生的原子荧光信号经过接收透镜(4)的汇聚,由光电倍增管探测器(5)接收并转换成为电信号,光束穿过原子化器后被反射镜(6,11)反射,反射光经过滤光片(7),照射到半导体探测器(8)上,通过半导体探测器(8)监测激发光源(1,9)的漂移和波动,光电倍增管探测器(5)和半导体检测器(8)输出的电信号由信号采集处理部分(12)进行采集和处理,信号采集处理部分(12)包含双通道同时采样的模数转换芯片(13)和数字控制芯片(14)。
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