发明名称 变角分光成像测定方法及其装置
摘要 具备向测定采样面(2)从2个以上的角度方向照射照明光的照明装置(10)、成像用的光学透镜(8)、黑白二维图像传感器(4)。由此,提供一种方法和装置,其针对每个测定波长摄像测定采样面(2)的二维图像,在该二维图像的全部像素中,针对每个像素短时间、准确地测量变角、分光信息,具体地说,实现更准确并且实用性高的变角分光成像测定方法及其装置。
申请公布号 CN104471361B 申请公布日期 2017.05.03
申请号 CN201380020978.8 申请日期 2013.04.19
申请人 色彩化学研究所有限公司 发明人 大住雅之
分类号 G01J3/46(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I 主分类号 G01J3/46(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 曾贤伟;曹鑫
主权项 一种变角分光成像测定装置,具备:线状或点状的照明装置,其能够相对于包含光亮材料的样本面的垂直方向,分别从固定的2个以上的角度方向向该样本面照射作为白色光的照明光;分光单元,其对来自上述样本面的反射光进行分光,配置在该样本面的上方;成像用的透镜,其对通过上述分光单元分光后的反射光进行成像;二维图像传感器,其被固定,能够经由上述成像用的透镜对上述反射光进行受光,摄像该样本面;以及白色参照面,其设置在上述样本面的整个周缘部,其中利用通过上述二维图像传感器摄像所得的二维图像内X轴、Y轴方向上的每个像素的照明方向和摄像方向的光学几何条件的变化,取得上述样本面的分光信息,该变角分光成像装置的特征在于,在测定前的校正时,同时摄像成为基准的标准白色板和上述白色参照面,测量每个像素和每个波长的校正系数,并且决定每个上述波长的曝光时间,通过变更上述分光单元的透过波长,不变更上述照明装置、上述二维图像传感器、上述样本面以及上述白色参照面的相对位置地,针对每个测定波长摄像上述样本面、以及设置在上述样本面的整个周缘部的上述白色参照面的二维图像,取得该二维图像的全部像素的每个测定波长的分光信息,从而将与从测定位置起平行于X轴和Y轴所引出的直线相交的部分的白色参照面的位置作为对X轴Y轴的外推位置来参照有效地作用的位置,来求出上述白色参照面的像素位置,通过针对每个上述测定波长改变校正和测定时的摄像曝光时间,来修正照明装置的分光特性、上述分光单元的分光特性、上述二维图像传感器的分光特性在上述测定波长范围内的增益的差。
地址 日本熊本县