发明名称 |
一种成像光谱仪计算目标位置的方法及装置 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种成像光谱仪计算目标位置的方法,通过对在各预设积分时间内获取成像光谱仪采集的目标图像计算其对应的光斑成像位置,然后将计算得到的多个光斑成像位置值取加权平均数,将加权平均数作为光斑成像的最终位置值。本申请的技术方案采用多张目标图像的光斑成像位置的加权平均数作为最终目标位置,有效的避免了由于光斑位置的波动造成的计算误差,保证目标位置的计算精度,一定程度提高了定位的准确性,提高了成像光谱仪的系统精度,进而提高成像光谱仪的测量精度。此外,本发明实施例还针对成像光谱仪计算目标位置的方法提供了相应的实现装置,进一步使得所述方法更具有实用性,所述装置具有相应的优点。 |
申请公布号 |
CN106597375A |
申请公布日期 |
2017.04.26 |
申请号 |
CN201611217961.3 |
申请日期 |
2016.12.26 |
申请人 |
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
发明人 |
王明佳;尹禄;张锐;王宇庆;朱继伟;崔继承 |
分类号 |
G01S5/16(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01S5/16(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
罗满 |
主权项 |
一种成像光谱仪计算目标位置的方法,其特征在于,包括:分别在各预设积分时间内获取成像光谱仪采集的目标图像;根据第一预设公式计算各积分时间内的目标图像对应的光斑成像位置;将各所述光斑成像位置对应的数值取加权平均数,以完成目标位置的计算。 |
地址 |
130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号 |