电子设备在测试过程中的传送控制

摘要

本发明提供一种电子设备在测试过程中的传送控制，用于解决现有电子设备测试过程采用人工操作而致使加工效率不高，且容易出错的问题，其包括一种基于多传送带的电子设备传送控制方法、装置及一种PLC控制器，其主要技术思想为通过合理数量的传送带设计，来对应不同的测试需求，具体可以为由第一传送带对应待测试的需求传送、第二传送带对应测试结果为OK的需求传送及第三传送带对应测试结果为NG的需求传送，不同需求传送对应一个传送带进行独立传送，进而保证了整个测试效率的最大化，而且还可以实现对电子设备载盘的自动分类传送，利于现场管理。

主权项

一种基于多传送带的电子设备传送控制方法，用于一电子设备自动测试过程中，其特征在于，所述电子设备传送控制方法包括：侦测一电子设备载盘沿一第一传送带至一第一位置时，一控制系统启动所述第一传送带之所述第一位置旁一第一升降台，将所述电子设备载盘抬升至一第二位置，等待一取放系统进行抓取；接收一第一指令，所述控制系统启动一第二传送带之一第三位置旁一第二升降台，将所述电子设备载盘放置于一第四位置，所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出，并放置于所述第三位置处，或者接收一第二指令，所述控制系统启动一第三传送带之一第五位置旁一第三升降台，将所述电子设备载盘放置于一第六位置，所述电子设备载盘由所述取放系统从一机柜测试系统抽出，并放置于所述第五位置处。