发明名称 |
低压电器件可靠性测试装置及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种低压电器件可靠性测试装置及系统,用于检测旋转工况下低压电器件的可靠性。其中,低压电器件可靠性测试装置用于对低压电器试件施加动载荷,包括支架、转轴和安装架。支架设置有轴线平行于水平面的安装孔;转轴可转动地插接于安装孔;安装架具有相对的连接端和试件固定端,连接端固定于转轴,试件固定端远离转轴设置。本发明提供的低压电器件可靠性测试装置及系统,能够对低压电器件施加动载荷。 |
申请公布号 |
CN106597174A |
申请公布日期 |
2017.04.26 |
申请号 |
CN201611247659.2 |
申请日期 |
2016.12.29 |
申请人 |
北京金风科创风电设备有限公司 |
发明人 |
孟超;胡俊杰 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 |
代理人 |
彭琼 |
主权项 |
一种低压电器件可靠性测试装置,用于对低压电器试件施加动载荷,其特征在于,包括:支架(200),设置有轴线平行于水平面的安装孔;转轴(300、300a),可转动地插接于所述安装孔;以及安装架(400、400a),具有相对的连接端和试件固定端,所述连接端固定于所述转轴(300、300a),所述试件固定端远离所述转轴(300、300a)设置。 |
地址 |
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区康定街19号 |