发明名称 一种基于卷积神经网络的DEM超分辨率方法
摘要 本发明公开了一种基于卷积神经网络的DEM超分辨率方法,包括以下步骤:(1)根据预先相互对应的低分辨率图像数据、以及高分辨率图像数据,训练得到的超分辨率用卷积神经网络;(2)利用插值方法将待处理的低分辨率DEM数据扩充,得到与期望的高分辨率DEM数据同一尺度大小的准高分辨率DEM数据;(3)利用边缘提取算子得到准高分辨率DEM数据的梯度图;(4)将梯度图输入到超分辨率用卷积神经网络中,得到高分辨率DEM数据的估计梯度图;(5)基于估计梯度图和待处理的低分辨率DEM数据的约束,重建出高分辨率DEM的高度图。本发明中的超分辨率方法鲁棒性强,重建结果精度高。
申请公布号 CN106600553A 申请公布日期 2017.04.26
申请号 CN201611159517.0 申请日期 2016.12.15
申请人 华中科技大学 发明人 侯文广;徐泽楷;陈子轩;卢晓东;易玮玮
分类号 G06T5/00(2006.01)I 主分类号 G06T5/00(2006.01)I
代理机构 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人 纪元
主权项 一种基于卷积神经网络的DEM超分辨率方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)根据预先相互对应的低分辨率图像数据、以及高分辨率图像数据,训练得到的超分辨率用卷积神经网络;(2)利用插值方法将待处理的低分辨率DEM数据扩充s倍,得到与期望的高分辨率DEM数据同一尺度大小的准高分辨率DEM数据;(3)利用边缘提取算子得到所述准高分辨率DEM数据的梯度图;(4)将所述步骤(3)中得到的所述梯度图输入到所述步骤(1)中得到的所述超分辨率用卷积神经网络中,得到高分辨率DEM数据的估计梯度图、以及相应的估计梯度值;(5)基于所述步骤(4)中得到的所述估计梯度图和所述待处理的低分辨率DEM数据的约束,重建出高分辨率DEM的高度图。
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号