发明名称 硅基力值探针及其制作方法
摘要 本发明公开了一种硅基力值探针及其制作方法,所述探针包括主体支撑结构、悬臂梁和针尖等。而所述的制作方法包括:提供双层顶层硅(100)型SOI硅片,所述硅片包括从上向下依次设置的第一层顶层硅、第一层二氧化硅埋层、第二层顶层硅、第二层二氧化硅埋层和底层硅,其中第一层、第二层顶层硅的厚度分别与所述探针的针尖高度及悬臂梁厚度相等;在所述硅片的第一层、第二层顶层硅上加工形成所述探针的针尖结构和悬臂梁结构;以及对所述硅片的底层硅进行加工,形成所述探针的主体支撑结构。本发明的硅基力值探针能实现准确定位,同时其制作方法简单易行,能够实现硅基力值探针的可控制备,且能有效提高力值标准件的成品率及性能。
申请公布号 CN106586940A 申请公布日期 2017.04.26
申请号 CN201510684215.4 申请日期 2015.10.20
申请人 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 发明人 李加东;苗斌;吴东岷
分类号 B81B3/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I;G01L25/00(2006.01)I 主分类号 B81B3/00(2006.01)I
代理机构 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人 王锋
主权项 一种硅基力值探针,其特征在于包括主体支撑结构、悬臂梁和针尖,所述悬臂梁一端部固定在所述主体支撑结构上,所述针尖固定于悬臂梁另一端部,所述针尖的高度为5~50μm,所述悬臂梁的厚度为1~10μm,长度为0.5mm~10mm。
地址 215123 江苏省苏州市苏州工业园区独墅湖高教区若水路398号