发明名称 阵列测试装置和方法
摘要 本发明涉及一种阵列测试装置和阵列测试方法,该装置包括:探针矩阵,多根探针均匀连续排列于探针矩阵上,具有地址矩阵信息且由电磁开关独立控制;地址矩阵系统,存储探针的地址矩阵信息;电压控制系统,根据探针的地址矩阵信息控制探针;运算组件,用于设定探针的选定规则。该方法包括:S1.划分多个探针子矩阵;S2.选定一个探针子矩阵,将每根探针处于扎针状态;S3.接收所有处于扎针状态中导通的探针的地址矩阵信息,选定一根或多根导通的探针;S4.解除非选定的探针的扎针状态;S5.重复上述步骤S2~S4,直至选定所有探针;S6.将电压通过所有选定的探针导入,进行测试。本发明的阵列测试装置和方法,测试效率高,适用性强。
申请公布号 CN104267299B 申请公布日期 2017.04.26
申请号 CN201410572496.X 申请日期 2014.10.23
申请人 昆山国显光电有限公司 发明人 施文峰
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 唐清凯
主权项 一种阵列测试装置,其特征在于,包括:探针矩阵,所述探针矩阵上设置有多个探针,所述多个探针均匀连续排列于所述探针矩阵上,所述探针具有地址矩阵信息并由电磁开关独立控制;地址矩阵系统,用于存储所述探针的地址矩阵信息;电压控制系统,用于根据所述探针的地址矩阵信息控制所述探针;运算组件,用于设定探针的选定规则。
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