发明名称 |
阵列测试装置和方法 |
摘要 |
本发明涉及一种阵列测试装置和阵列测试方法,该装置包括:探针矩阵,多根探针均匀连续排列于探针矩阵上,具有地址矩阵信息且由电磁开关独立控制;地址矩阵系统,存储探针的地址矩阵信息;电压控制系统,根据探针的地址矩阵信息控制探针;运算组件,用于设定探针的选定规则。该方法包括:S1.划分多个探针子矩阵;S2.选定一个探针子矩阵,将每根探针处于扎针状态;S3.接收所有处于扎针状态中导通的探针的地址矩阵信息,选定一根或多根导通的探针;S4.解除非选定的探针的扎针状态;S5.重复上述步骤S2~S4,直至选定所有探针;S6.将电压通过所有选定的探针导入,进行测试。本发明的阵列测试装置和方法,测试效率高,适用性强。 |
申请公布号 |
CN104267299B |
申请公布日期 |
2017.04.26 |
申请号 |
CN201410572496.X |
申请日期 |
2014.10.23 |
申请人 |
昆山国显光电有限公司 |
发明人 |
施文峰 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
唐清凯 |
主权项 |
一种阵列测试装置,其特征在于,包括:探针矩阵,所述探针矩阵上设置有多个探针,所述多个探针均匀连续排列于所述探针矩阵上,所述探针具有地址矩阵信息并由电磁开关独立控制;地址矩阵系统,用于存储所述探针的地址矩阵信息;电压控制系统,用于根据所述探针的地址矩阵信息控制所述探针;运算组件,用于设定探针的选定规则。 |
地址 |
215300 江苏省苏州市昆山市开发区龙腾路1号4幢 |