发明名称 辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器
摘要 本发明提出一种辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器,涉及辐射探测技术领域。其中,本发明的一种辐射探测装置包括:射线探测器;与射线探测器相连接的高速模数转化器ADC;和与高速ADC连接的数据处理器;其中,射线探测器把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号;高速ADC通过电信号波形采样获取波形数据;数据处理器根据波形数据确定单光子信号个数,进而确定采用积分信号和/或计数信号进行成像。这样的装置能够利用探测器的单光子探测能力根据波形数据确定单光子信号个数,进而判断采用波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像,从而提高被测物体的辐射探测成像质量,提升系统的穿透力指标和物质分辨能力。
申请公布号 CN106596597A 申请公布日期 2017.04.26
申请号 CN201611143083.5 申请日期 2016.12.08
申请人 同方威视技术股份有限公司;清华大学 发明人 李元景;赵自然;李荐民;李玉兰;朱维彬;邹湘;张清军;宗春光;赵晓琳;李树伟;王钧效
分类号 G01N23/04(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 孙宝海
主权项 一种辐射探测装置,其特征在于,包括:射线探测器;与所述射线探测器相连接的高速模数转化器ADC;和,与所述高速ADC连接的数据处理器;其中,所述射线探测器把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号;所述高速ADC对所述电信号进行波形采样,获取波形数据并发送给所述数据处理器;所述数据处理器根据所述波形数据确定单光子信号个数,根据所述单光子信号个数确定采用所述波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像。
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