一种半导体激光器芯片的测试系统

摘要

本发明公开了一种半导体激光器芯片的测试系统，包括测试柜、测试电源、空气粒子计数器和计算机处理子系统；测试柜，其包括装载平台，多个待测试的芯片组件放置在所述装载平台上；测试电源，用以向所述多个待测试的芯片组件提供测试电流；空气粒子计数器，设置在所述测试柜中，用于监控所述测试柜内的空气洁净度；计算机处理子系统，分别与所述测试电源和所述空气粒子计数器连接，用以根据所述空气洁净度，向所述测试电源发出相应的控制指令。通过上述方式，本发明能够提高测试的安全性，避免因半导体激光器芯片组件意外失效带来的损失。

主权项

一种半导体激光器芯片的测试系统，其特征在于，包括：测试柜，其包括装载平台，多个待测试的芯片组件放置在所述装载平台上；测试电源，用以向所述多个待测试的芯片组件提供测试电流；空气粒子计数器，设置在所述测试柜中，用于监控所述测试柜内的空气洁净度；计算机处理子系统，分别与所述测试电源和所述空气粒子计数器连接，用以根据所述空气洁净度，向所述测试电源发出相应的控制指令。