| 主权项 |
一种阻尼结构优化叶片测试实验台，其特征在于：包括基础台架、叶根固定装置、阻尼结构装置和激振加载装置；其中，基础台架包括底板(1)和对称焊接在底板(1)上的两个侧板(2)，两个侧板(2)的内侧对称焊接有两个垫块(3)，且两个侧板(2)上沿竖直方向上对称开设有若干第一直槽(4)；叶根固定装置包括叶根槽(8)和紧固螺栓(9)，叶根槽(8)的中间开设有用于嵌入待测叶片叶根(5)的凹槽，凹槽的下方设置有用于给叶根(5)施加竖直向上载荷的紧固螺栓(9)；阻尼结构装置包括用于固定待测叶片叶身(6)的叶片卡槽(10)，叶片卡槽(10)的两端分别设置有一个球盘(12)，每个球盘(12)分别与对称设置的两个摩擦阻尼块(11)点接触，每个摩擦阻尼块(11)分别设置在一个阻尼架(15)的一端，并通过螺杆和加载螺母(13)与设置在该阻尼架(15)上的静态力传感器(14)相连，每个阻尼架(15)的另一端通过伸长杆嵌于对应侧板(2)上的第一直槽(4)内，能够沿第一直槽(4)的方向上下移动，并通过螺母固定其位置；激振加载装置包括激振器支架平板(16)和对称设置在其两侧的两个直板(18)，两个直板(18)分别通过螺栓固定在两个侧板(2)上，激振器支架平板(16)上开有若干支架弧形槽(17)，激振器(21)固定于平板(19)上，平板(19)上开有第二直槽(20)，平板(19)设置在激振器支架平板(16)上，且激振器(21)通过若干支架弧形槽(17)调节其在水平方向的角度，通过第二直槽(20)调节其的伸出长度；激振器(21)和待测叶片之间通过激振杆相接触，激振杆中间放置有用于测量待测叶片激振力大小的动态力传感器；该测试实验台包括两套阻尼结构装置；第一直槽(4)边缘上刻有用于调整阻尼结构装置和激振加载装置在两个侧板(2)上位置的刻度。 |
