一种宇航用元器件试验结构

摘要

本实用新型公开了一种宇航用元器件试验结构，包括夹具本体和盖板，夹具本体为立方体结构，在每个面上设置有放置CCD图像传感器的样品放置孔，每个面上的样品放置孔轴对称或中心对称；在样品放置孔上开有引脚固定孔，带有引脚的CCD图像传感器可插入夹具本体的引脚固定孔中。本实用新型将夹具本体设计为立方体结构，每个面样品放置孔厚度为0.6cm～1.3cm，六个面围成中空结构，样品放置孔轴对称或中心对称设计，以防止在振动过程中产生共振，造成样品损伤；同时在设备对样品重量有一定要求的情况下，以完成60G～80G高量级振动、3000G以上冲击试验，易于实现夹具本体的空间反转。

主权项

一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，包括夹具本体(1)和盖板(3)，夹具本体(1)为立方体结构，每个面为内嵌式结构，在每个面上设置有放置CCD图像传感器的样品放置孔(2)，每个面上的样品放置孔(2)轴对称或中心对称，防止CCD图像传感器在振动过程中产生共振；在样品放置孔(2)上开有引脚固定孔，带有引脚的CCD图像传感器可插入夹具本体(1)的引脚固定孔中；盖板(3)可覆盖于样品放置孔(2)上，盖板(3)上设有平面阶梯结构，与CCD图像传感器的玻璃平面和陶瓷平面组成的阶梯结构配合，盖板(3)与夹具本体(1)连接以压紧置于样品放置孔(2)上的CCD图像传感器，使冲击力均匀分配到CCD图像传感器的各个平面。