发明名称 |
一种X射线荧光光谱仪 |
摘要 |
本实用新型提供了一种X射线荧光光谱仪,其包括:X射线管,用于发出X射线;样品台,用于放置待检测样品;会聚透镜,设置在X射线管和样品台之间,X射线管发出的X射线经会聚透镜出射到样品台;探测器,探测来自样品台上的样品的X射线;平行束透镜,设置在样品台和探测器之间,来自样品的X射线经平行束透镜到达探测器;摄像头,用于获取样品图像;样品台位置调节装置,用于在至少三维方向上调节样品台的位置,样品台固定于样品台位置调节装置上;探测器位置调节装置,用于在至少三维方向上调节探测器的位置,探测器固定于探测器位置调节装置上。本实用新型可实现样品元素组份及元素空间分布的测量,机械结构简单,操作便利,测量精度高。 |
申请公布号 |
CN206132672U |
申请公布日期 |
2017.04.26 |
申请号 |
CN201621073180.7 |
申请日期 |
2016.09.22 |
申请人 |
北京师范大学 |
发明人 |
秦敏;易龙涛;韩悦;张爽;刘志国 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
北京金咨知识产权代理有限公司 11612 |
代理人 |
严业福;吕晓阳 |
主权项 |
一种X射线荧光光谱仪,其特征在于,该光谱仪包括:X射线管,用于发出X射线;样品台,用于放置待检测样品;会聚透镜,其设置在所述X射线管和所述样品台之间,所述X射线管发出的X射线经所述会聚透镜出射到所述样品台;探测器,其探测来自所述样品台上的样品的X射线;平行束透镜,其设置在所述样品台和所述探测器之间,来自样品的X射线经所述平行束透镜到达所述探测器;摄像头,其用于获取样品图像;样品台位置调节装置,用于在至少三维方向上调节所述样品台的位置,其中所述样品台固定于所述样品台位置调节装置上;以及探测器位置调节装置,用于在至少三维方向上调节所述探测器的位置,其中所述探测器固定于所述探测器位置调节装置上。 |
地址 |
100875 北京市海淀区北京市新街口外大街19号 |