发明名称 |
金属互连线的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种金属互连线的制造方法,包括:在半导体衬底上依次形成介质层及硬掩膜层;刻蚀所述硬掩膜层和介质层形成开口;湿法清洗所述开口;执行等离子处理工艺,以平滑所述开口的侧壁;在所述开口内形成金属互连线。本发明在刻蚀形成开口之后、在开口内形成金属互连线之前,增加等离子处理的步骤,平滑所述开口的侧壁,消除了底切缺陷,可改善后续膜层的填充效果,确保后续形成的金属互连线不会出现金属空洞缺陷。 |
申请公布号 |
CN103545196B |
申请公布日期 |
2017.04.19 |
申请号 |
CN201210243500.9 |
申请日期 |
2012.07.13 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
赵保军 |
分类号 |
H01L21/3065(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/3065(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种金属互连线的制造方法,其特征在于,包括:在半导体衬底上依次形成刻蚀阻挡层、介质层及硬掩膜层;刻蚀所述硬掩膜层、介质层和刻蚀阻挡层形成开口;湿法清洗所述开口,在所述硬掩膜层与介质层界面之间出现底切缺陷;执行等离子处理工艺,以平滑所述开口的侧壁,所述等离子处理工艺采用氮气和氢气的混合气体;以及在所述开口内形成金属互连线。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |