发明名称 金属互连线的制造方法
摘要 本发明提供一种金属互连线的制造方法,包括:在半导体衬底上依次形成介质层及硬掩膜层;刻蚀所述硬掩膜层和介质层形成开口;湿法清洗所述开口;执行等离子处理工艺,以平滑所述开口的侧壁;在所述开口内形成金属互连线。本发明在刻蚀形成开口之后、在开口内形成金属互连线之前,增加等离子处理的步骤,平滑所述开口的侧壁,消除了底切缺陷,可改善后续膜层的填充效果,确保后续形成的金属互连线不会出现金属空洞缺陷。
申请公布号 CN103545196B 申请公布日期 2017.04.19
申请号 CN201210243500.9 申请日期 2012.07.13
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 赵保军
分类号 H01L21/3065(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/3065(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种金属互连线的制造方法,其特征在于,包括:在半导体衬底上依次形成刻蚀阻挡层、介质层及硬掩膜层;刻蚀所述硬掩膜层、介质层和刻蚀阻挡层形成开口;湿法清洗所述开口,在所述硬掩膜层与介质层界面之间出现底切缺陷;执行等离子处理工艺,以平滑所述开口的侧壁,所述等离子处理工艺采用氮气和氢气的混合气体;以及在所述开口内形成金属互连线。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号