发明名称 |
反射式单波显微分析仪 |
摘要 |
本实用新型涉及一种反射式单波显微分析仪。其特征是:装置由分光系统和金相显微镜两部分组成。分光系统放置在载物台上,由凹面镜(3)和反射光栅(5)组成。分光系统底部放置转轴(4),滑块(9)安置在转轴(4)上。在滑块(9)的两侧添加上限位装置(7),并在分光系统的后方加入步进电机(1)。当光线进入分光系统,被分成一个光带。在步进电机(1)的带动下,转轴(4)开始转动,从而使光栅转动并使光带产生移动,使得进入显微镜的光色发生变化。分离的单色光由分光系统的出光口(6)进入金相显微镜的进光口。经透镜处理的光信息传递给摄像头处理后传入计算机。有益效果是,结构简单,采用单色光呈像及数据分析,实现数据实时可视化。 |
申请公布号 |
CN206114515U |
申请公布日期 |
2017.04.19 |
申请号 |
CN201621122422.7 |
申请日期 |
2016.10.14 |
申请人 |
海南大学 |
发明人 |
杨亮;颜帮程;秦易;王书杰;曹阳 |
分类号 |
G01N21/31(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/31(2006.01)I |
代理机构 |
海口翔翔专利事务有限公司 46001 |
代理人 |
李策;李勇 |
主权项 |
反射式单波显微分析仪,其特征是:装置由分光系统和金相显微镜两部分组成,分光系统放置在载物台上,由凹面镜(3)和反射光栅(5)组成;分光系统左侧壁上依次为继电器、电机驱动板、电机控制板、驱动板电源;右侧壁上为光源,由电源电路和灯泡组成,分光系统底部放置转轴(4),滑块(9)安置在转轴(4)上,在滑块(9)的两侧添加上限位装置(7),并在分光系统的后方加入步进电机(1);当光线进入分光系统,被分成一个光带,在步进电机(1)和齿轮(2)的带动下,转轴(4)开始转动,从而使光栅转动并使光带产生移动,使得进入显微镜的光色发生变化,分离的单色光由分光系统的出光口(6)进入金相显微镜的进光口,单色光通过显微镜的内部结构,将待测物信息传递给摄像头,再由摄像头将获取的图像信息传入计算机。 |
地址 |
570208 海南省海口市美兰区人民大道58号海南大学 |