发明名称 |
保偏光纤的轴向应变‑双折射系数的测量系统及测量和计算方法 |
摘要 |
本发明公开一种保偏光纤的轴向应变‑双折射系数的测量系统及测量和计算方法,所述系统包括:分布式偏振串扰分析系统、输出保偏光纤、待测保偏光纤、输入保偏光纤、第一光纤应力调节架、第二光纤应力调节架、带指针的第一读数显微镜、带指针的第二读数显微镜;分布式偏振串扰分析系统的输出端口与所述输出保偏光纤的第一端连接;所述输入保偏光纤的第二端与所述分布式偏振串扰分析系统的输入端口连接;输出保偏光纤的第二端与所述待测保偏光纤的第一端连接,且在输出保偏光纤与所述待测保偏光纤的连接处引入第一预设串扰峰;所述待测保偏光纤的第二端与所述输入保偏光纤的第一端连接,且在待测保偏光纤与输入保偏光纤的连接处引入第二预设串扰峰。 |
申请公布号 |
CN106568580A |
申请公布日期 |
2017.04.19 |
申请号 |
CN201610976260.1 |
申请日期 |
2016.11.07 |
申请人 |
河北大学 |
发明人 |
冯亭;丁东亮;姚晓天 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I;G01B11/16(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京市商泰律师事务所 11255 |
代理人 |
毛燕生 |
主权项 |
一种保偏光纤的轴向应变‑双折射系数的测量系统,其特征在于,包括:分布式偏振串扰分析系统、输出保偏光纤、待测保偏光纤、输入保偏光纤、第一光纤应力调节架、第二光纤应力调节架、带指针的第一读数显微镜、带指针的第二读数显微镜;所述分布式偏振串扰分析系统的输出端口与所述输出保偏光纤的第一端连接;所述输入保偏光纤的第二端与所述分布式偏振串扰分析系统的输入端口连接;所述输出保偏光纤的第二端与所述待测保偏光纤的第一端连接,且在所述输出保偏光纤与所述待测保偏光纤的连接处引入第一预设串扰峰;所述待测保偏光纤的第二端与所述输入保偏光纤的第一端连接,且在所述待测保偏光纤与所述输入保偏光纤的连接处引入第二预设串扰峰;所述待测保偏光纤与所述输出保偏光纤的连接处设置有第一应变量测量监测点;所述待测保偏光纤与所述输入保偏光纤的连接处设置有第二应变量测量监测点;所述第一光纤应力调节架和所述第二光纤应力调节架分别设置在所述待测保偏光纤的两侧,用于对所述待测保偏光纤进行轴向拉伸;所述带指针的第一读数显微镜的指针指向所述第一应变量测量监测点,用于读取所述第一应变量测量监测点的轴向位移变化量;所述带指针的第二读数显微镜的指针指向所述第二应变量测量监测点,用于读取所述第二应变量测量监测点的轴向位移变化量;所述分布式偏振串扰分析系统,用于测量得到所述待测保偏光纤上的第一预设串扰峰和第二预设串扰峰之间的初始延迟距离差ΔZ<sub>0</sub>。 |
地址 |
071002 河北省保定市五四东路180号 |