发明名称 |
校正飞行时间质谱仪中的飞行时间漂移 |
摘要 |
一种通过下述方式校正质谱仪中的飞行时间漂移的方法:识别谱中的离子的质谱峰,在所有谱中检测具有基本上相同的质量的离子,确定检测的离子的飞行时间漂移,并且,通过对每一个相应的飞行时间应用校正因子来校正检测的离子的飞行时间漂移。 |
申请公布号 |
CN103392220B |
申请公布日期 |
2017.04.19 |
申请号 |
CN201280010125.1 |
申请日期 |
2012.02.23 |
申请人 |
莱克公司 |
发明人 |
J·伽洛斯金斯基;P·M·威利斯 |
分类号 |
H01J49/40(2006.01)I;H01J49/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01J49/40(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
陈芳 |
主权项 |
一种校正质谱仪中的飞行时间漂移的方法,该方法包括:识别多幅谱中的离子的质谱峰;在所述多幅谱中检测具有基本上相同的质量的离子;确定检测到的离子的飞行时间漂移;以及通过对每一个相应的飞行时间应用缩放因子来校正检测到的离子的飞行时间漂移,其中,在所述多幅谱中检测具有基本上相同的质量的离子包括:将每一个识别的质谱峰表示为概率分布;确定每一个相应的质谱峰的飞行时间和强度的至少一个;给离子的飞行时间分配置信级别;以及给具有重叠的置信级别的相应的质谱峰的离子分配相同的质量。 |
地址 |
美国密执安州 |