发明名称 |
一种气敏材料性能测试室 |
摘要 |
本实用新型公开了一种气敏材料性能测试室,所述测试室包括上盖板(1)和底板(4),上盖板(1)和底板(4)间形成一个测试空腔,且上盖板(1)和底板(4)间使用密封圈进行密封,所述测试空腔内设有加热板(5)、温度传感器(9)、瓷片(7)和金属探针(6),其中,加热板(5)安装在底板(4)中,加热板(5)下安装有温度传感器(9),加热板(5)和温度传感器(9)连接到测试空腔外部的温度控制器上,加热板(5)上放置有瓷片(7),瓷片(7)上载有气敏材料,金属测试探针(6)压在瓷片(7)的电极(10)上并将信号引出到外部的测试仪器中。本实用新型提供的测试室构造简单,能够快速获得气敏材料的性能测试结果。 |
申请公布号 |
CN206114577U |
申请公布日期 |
2017.04.19 |
申请号 |
CN201620816983.0 |
申请日期 |
2016.07.29 |
申请人 |
昆明贵研金峰科技有限公司 |
发明人 |
肖周;王毅;马骏;吴建昆;云付珍 |
分类号 |
G01N27/12(2006.01)I |
主分类号 |
G01N27/12(2006.01)I |
代理机构 |
昆明今威专利商标代理有限公司 53115 |
代理人 |
赛晓刚 |
主权项 |
一种气敏材料性能测试室,所述测试室包括上盖板(1)和底板(4),所述上盖板(1)和底板(4)之间形成一个测试空腔,且上盖板(1)和底板(4)接口处使用密封圈进行密封,其特征在于,所述测试空腔内设有加热板(5)、温度传感器(9)、瓷片(7)和金属探针(6),其中,所述加热板(5)安装在底板(4)上,加热板(5)下安装有温度传感器(9),加热板(5)和温度传感器(9)连接到测试空腔外部的温度控制器上,加热板(5)上放置有瓷片(7),瓷片(7)上载有气敏材料,金属测试探针(6)压在瓷片(7)的电极(10)上将信号引出到外部的测试仪器中。 |
地址 |
650106 云南省昆明市高新技术开发区科技路988号 |