发明名称 |
一种电容软屏三维信息的计算方法及其检测显示系统 |
摘要 |
本发明公开了一种电容软屏三维信息的计算方法及其检测显示系统,用以实现检测显示电容软屏被触发时完整的三维信息,本发明采用如下的技术方案实现,触点位置的确定,即二维信息的采集、触点下计算电容变化量模型的建立、触点下电容变化量的计算、电容变化量与加载力大小的实时关系、电容变化信号的检测显示系统,最后显示器显示第三维信息。从而让电子签名具有书面签名那样的效果,而容易获得司法部门的认可。 |
申请公布号 |
CN104049829B |
申请公布日期 |
2017.04.19 |
申请号 |
CN201410319328.X |
申请日期 |
2014.07.07 |
申请人 |
安徽师范大学 |
发明人 |
张持健;殷安龙;武旭明 |
分类号 |
G06F3/044(2006.01)I |
主分类号 |
G06F3/044(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种电容软屏三维信息的计算方法,其特征是:电容软屏为表层为驱动电极,底层为感应电极,中间层是超弹塑性材料的三层物理结构,当有导电物体触碰电容软屏时,导体和驱动电极之间形成一个耦合电容,驱动电极接有高频信号,于是导体吸走一个很小的电流,分别从驱动电极的四个拐角流出,通过计算四个电流的比例就可以定位触点的位置,即二维信息的采集;当有导电物体触碰电容软屏时,即电容软屏表层有加载力时,表层的驱动极板和中间层的超弹塑性材料会发生应变,从而引起驱动电极和感应电极之间的距离和正对面积发生变化,对此时触点下电容软屏的表层发生的微小形变建立数学模型;通过对数学模型取微元,将微元投影到底层,得到所取的微元与底层的正对面积,用于计算微元电容;然后对上述得到的微元电容积分运算,得到此时触点下电容变化量与触点下降高度的关系式;根据中间层超弹塑性材料的弹性系数,可以得到加载在电容软屏表层的加载力和触点下降高度的关系式,这样就可以得到加载力与电容变化量的关系式,即可以根据电容变化量来记录加载力的大小;从而使得电容软屏不仅可以检测操作者操作时触摸的位置而且还可以记录下操作者操作时的力度,即作用于电容软屏完整的三维信息。 |
地址 |
241000 安徽省芜湖市花津南路一号安徽师范大学 |