发明名称 密闭地密封的辐射检测器和制作方法
摘要 本发明的名称是:“密闭地密封的辐射检测器和制作方法”。本文公开包含X线面板(102)和放置于X线面板(102)的第一表面上的闪烁体层(104)的平板X线检测器(100)。平板X线检测器(100)还包含覆盖闪烁体层(104)的密闭盖(108)。密闭盖(104)包含顶面(108‑1)和从顶面(108‑1)伸出的至少一个侧壁(108‑2)。平板X线检测器(100)还包含放置于密闭盖(108)与X线面板(102)之间的焊料密封物(110)。侧壁(108‑2)的边缘大体上嵌入到焊料密封物(110)中,以致边缘不直接接触X线面板(102)。还公开了用于制作平板X线检测器(100)的方法。
申请公布号 CN103091697B 申请公布日期 2017.04.19
申请号 CN201210317543.7 申请日期 2012.08.31
申请人 通用电气公司 发明人 J.J.肖;C.P.加里甘
分类号 G01T1/20(2006.01)I;G01T1/202(2006.01)I 主分类号 G01T1/20(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 叶晓勇;李浩
主权项 一种检测器,包含:X线面板(102);闪烁体层(104),放置于所述X线面板(102)的第一表面;密闭盖(108),覆盖所述闪烁体层(104),其中所述密闭盖(108)包含顶面(108‑1)和从所述顶面(108‑1)伸出的至少一个侧壁(108‑2);以及焊料密封物(110),放置于所述密闭盖(108)和所述X线面板(102)之间,其中所述侧壁(108‑2)的边缘嵌入到所述焊料密封物(110)中,由此所述边缘不直接接触所述X线面板(102)。
地址 美国纽约州
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