发明名称 | 用于成像系统的源侧监测装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种包括探测器模块部件(102)和耦合到探测器模块部件的监测镜头(100)的源侧辐射探测器(SSRD) (50),所述探测器模块部件和监测镜头定位成接近x射线源(12),所述监测镜头包括配置成接收穿过其中的来自所述x射线源的x射线(14)的多个狭缝(140、142),所述探测器模块部件配置成探测通过所述狭缝传送的x射线并生成信息以跟踪所述x射线源的焦斑(200)的位置。 | ||
申请公布号 | CN103417233B | 申请公布日期 | 2017.04.12 |
申请号 | CN201310189375.2 | 申请日期 | 2013.05.21 |
申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | A.伊赫勒夫;J.J.莱西 |
分类号 | A61B6/03(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 叶晓勇;李浩 |
主权项 | 一种源侧辐射探测器SSRD(50),包括:探测器模块部件(102);以及耦合到所述探测器模块部件的监测镜头(100),所述探测器模块部件和所述监测镜头定位成接近x射线源(12),所述监测镜头包括配置成接收穿过其中的来自所述x射线源的x射线(14)的多个狭缝(140、142),所述探测器模块部件配置成探测透射所述狭缝的x射线并生成信息以跟踪所述x射线源的焦斑(200)的位置;其中,所述多个狭缝(140、142)包括:在第一方向布置的第一对狭缝(140);以及在不同的第二方向布置的第二对狭缝(142)。 | ||
地址 | 美国纽约州 |