发明名称 用于测量物体的高度或高度分布的方法和光图案
摘要 本发明涉及用于测量物体高度或高度分布的方法,包括:借助光源朝横轴方向将相继编码像素形式的光图案投影到物体上,像素中的每个像素具有至少一个编码特征并且像素一起定义码字,由预定数目的相继像素的序列构成的像素组定义在码字内仅存在一次的个体部分码字,紧邻的像素组包括部分相同的像素,每个像素组被指派在横轴方向上关于参考平面的特定参考位置;借助布置成与光源偏置的图像传感器来捕捉光图案;确定像素组的横轴方向上的位置和借助所确定的像素组的位置与相应参考位置的比较来确定物体高度,像素是个体光点并且编码特征是光点在个体像素序列方向上位于横向于光图案延伸方向上的位置,光点沿光图案的延伸方向布置在多条线中。
申请公布号 CN103791842B 申请公布日期 2017.04.12
申请号 CN201310532623.9 申请日期 2013.10.30
申请人 锐多视觉系统工程有限公司 发明人 B·霍夫曼;I·逖希霍尔茨
分类号 G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 唐杰敏
主权项 一种用于测量物体(2)的高度或高度分布的方法,其中所述方法包括以下方法步骤:借助光源(5)朝横轴(X)延伸方向将相继编码的像素(11,17)形式的光图案(12)投影到所述物体(2)上,其中所述像素(11,17)中的每一个像素具有至少一个编码特征并且所述像素(11,17)一起定义码字(7,16),其中由预定数目的相继像素(11)的序列构成的像素组各自定义在所述码字(7,16)内仅存在一次的个体部分码字(8,13,14,15),其中紧邻的像素组包括部分相同的像素(11,17),并且其中每个像素组被指派在所述横轴(X)方向上关于参考平面的特定参考位置;借助图像传感器(3)来捕捉所述光图案(12),所述图像传感器(3)被布置成与所述光源(5)偏置;确定所述像素组的所述横轴(X)方向上的位置并且借助所述像素组的所确定的位置与相应参考位置的比较来确定所述物体(2)的高度,其特征在于,所述像素(11,17)是个体光点并且所述编码特征是所述光点在个体像素(11,17)序列的方向上位于横向于所述光图案(12)的延伸的方向上的位置,其中所述光点沿所述光图案(12)的延伸方向布置在多条线中。
地址 德国威斯巴登