基于零中频二次正交解调的频率特性测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于零中频二次正交解调的频率特性测量装置，它包括正交扫频信号源，正交扫频信号源的第一输出端与第一乘法器和第三乘法器的连接，正交扫频信号源的第二输出端与第二乘法器和第四乘法器连接；独立扫频信号源与被测网络、第一乘法器、第二乘法器连接，被测网络与第三乘法器、第四乘法器连接；第一乘法器、第二乘法器、第三乘法器和第四乘法器分别依次与低通滤波器、ADC模块连接，ADC模块与MCU模块连接，MCU模块与显示器连接。本发明还提供一种基于零中频二次正交解调的频率特性测量方法。该方法和装置采用零中频二次正交解调，解决了正交解调中的IQ失配问题，实现了对网络(电路)频率特性的准确测量。

主权项

一种基于零中频二次正交解调的频率特性测量装置，其特征在于：它包括正交扫频信号源和独立扫频信号源，所述正交扫频信号源的第一输出端分别与第一乘法器和第三乘法器的输入端连接，所述正交扫频信号源的第二输出端分别与第二乘法器和第四乘法器的输入端连接；所述独立扫频信号源的输出端分别与被测网络、第一乘法器、第二乘法器的输入端连接，被测网络的输出端分别与第三乘法器、第四乘法器的输入端连接；所述第一乘法器、第二乘法器、第三乘法器和第四乘法器的输出端分别依次与低通滤波器、ADC模块连接，所述ADC模块的输出端与MCU模块的输入端连接，所述MCU模块的输出端与显示器连接。