发明名称 基于介质调制的复合源场板异质结场效应晶体管
摘要 本发明公开了一种基于介质调制的复合源场板异质结场效应晶体管,主要解决现有场板技术在实现高击穿电压时工艺复杂的问题。其包括:衬底(1)、过渡层(2)、势垒层(3)、源极(4)、漏极(5)、台面(6)、钝化层(9)和保护层(13);源极与漏极之间的势垒层内刻有栅槽(7),栅槽(7)内淀积有栅极(8),栅极与漏极之间的钝化层(9)内刻有凹槽(10),凹槽(10)内完全填充有高介电常数介质(11),钝化层(9)与保护层(13)之间淀积有源场板(12),该源场板与源极电气连接,源场板(12)与高介电常数介质(11)构成复合源场板。本发明具有制作工艺简单、击穿电压高、场板效率高、可靠性高和成品率高的优点。
申请公布号 CN104393035B 申请公布日期 2017.04.12
申请号 CN201410658333.3 申请日期 2014.11.18
申请人 西安电子科技大学 发明人 毛维;佘伟波;李洋洋;杨;杜鸣;郝跃
分类号 H01L29/772(2006.01)I;H01L29/80(2006.01)I 主分类号 H01L29/772(2006.01)I
代理机构 陕西电子工业专利中心 61205 代理人 王品华;朱红星
主权项 一种基于介质调制的复合源场板异质结场效应晶体管,自下而上包括:衬底(1)、过渡层(2)、势垒层(3)、钝化层(9)和保护层(13),势垒层(3)的上面淀积有源极(4)与漏极(5),势垒层(3)的侧面刻有台面(6),且台面深度大于势垒层的厚度,在源极与漏极之间的势垒层内刻有栅槽(7),在栅槽(7)内淀积有栅极(8),其特征在于:钝化层(9)内刻有凹槽(10),凹槽(10)内完全填充有高介电常数介质(11);钝化层(9)与保护层(13)之间淀积有源场板(12),该源场板(12)与源极(4)电气连接,且源场板(12)与高介电常数介质(11)构成复合源场板结构;凹槽(10)靠近栅极一侧边缘与栅极(8)靠近漏极一侧边缘之间的距离a为s×(d+s×ε<sub>1</sub>/ε<sub>2</sub>)<sup>0.5</sup>,其中s为凹槽深度,d为凹槽底部与势垒层之间的距离,ε<sub>1</sub>为钝化层的相对介电常数,ε<sub>2</sub>为高介电常数介质的相对介电常数。
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