高性能测试向量生成方法及生成器

摘要

本发明提供了一种高性能测试向量生成方法及生成器，包括码生成模块以及进位链模块；码生成模块时钟端clk作为高性能测试向量生成器的时钟端，码生成模块码输出端Q1…Qn作为高性能测试向量生成器的码输出端。本发明中，测试码(即测试向量)的位数越大，其跳变率降低的幅度越大，且本发电路简单，功耗小，易于模块化，易于码位扩展；进一步地，本发明生成码低跳变，全状态，故障覆盖率高，易于硬件和软件实现，也易于可编程器件实现。

主权项

一种高性能测试向量生成器，其特征在于，包括码生成模块以及进位链模块；码生成模块含有：码输出端Q₁...Q_n，级进位输出端c_o1...c_o(k‑1)，输入端c_i1...c_ik，时钟端clk；进位链模块含有：输出端y₁...y_k‑1，输入端x₁...x_k‑1；码生成模块级进位输出c_o1...c_o(k‑1)依次与进位链模块输入端x₁...x_k‑1连接，码生成模块输入端c_i2...c_ik依次与进位链模块输出y₁...y_k‑1连接，c_i1接高电平+Vcc；码生成模块时钟端clk作为高性能测试向量生成器的时钟端，码生成模块码输出端Q₁...Q_n作为高性能测试向量生成器的码输出端；n表示测试码位数，k表示码单元级数，其中，测试码即测试向量；码生成模块包括k级码单元，其中，各级码单元时钟端clk_u，u＝1，2，...，k‑1，k，连接在一起，构成码生成模块时钟端clk，下标u表示第u级；各级码单元状态输出端按序构成码生成模块码输出端Q₁...Q_n；除最高级码单元外，其它各级码单元进位输出端c_o按序构成码生成模块级进位输出端c_o1...c_o(k‑1)；各级码单元输入端c_i按序构成码生成模块输入端c_i1...c_ik；所述k级码单元含有作为码单元的双码单元；双码单元包括：双码单元触发器电路、双码单元状态转换控制电路以及双码单元进位输出电路；双码单元触发器电路包括触发器1’以及触发器2’；触发器1’以及触发器2’的时钟输入端并接在一起，与码单元时钟端clk_u连接；触发器1’的数据输入端D与双码单元触发器电路输入端D₁连接，触发器2’的数据输入端D与双码单元触发器电路输入端D₂连接；触发器1’的状态输出端Q与双码单元触发器电路状态端Q₁连接，触发器2’的状态输出端Q与双码单元触发器电路状态端Q₂连接；双码单元触发器电路状态端Q₁、Q₂分别与双码单元状态转换控制电路的输入端t₁、t₂连接；双码单元触发器电路输入端D₁、D₂分别与双码单元状态转换控制电路的输出端z₁、z₂连接；双码单元状态转换控制电路包括复合逻辑门1”以及复合逻辑门2”；双码单元状态转换控制电路有三个输入端t₁、t₂和c_i，两个输出端z₁、z₂，其中，输入端c_i作为双码单元状态转换控制电路的控制输入端c_i；复合逻辑门1”是触发器1’的控制电路，复合逻辑门1”的三个输入端a₁、a₂、a₃分别与双码单元状态转换控制电路三个输入t₁、c_i、t₂连接，复合逻辑门1”的输出端与z₁连接；复合逻辑门2”是触发器2’的控制电路，复合逻辑门2”的三个输入端b₁、b₂、b₃分别与双码单元状态转换控制电路三个输入t₂、c_i、t₁连接，复合逻辑门2”的输出端与z₂连接；双码单元进位输出电路的输入端p₁、p₂分别与双码单元触发器电路的状态端Q₁、Q₂连接，双码单元进位输出电路的输出端作为进位输出端c_o。