发明名称 |
存储器结构 |
摘要 |
本发明公开了一种存储器结构。此种存储器结构包括一第一芯片。第一芯片具有一阵列区及一周边区。第一芯片包括一第一叠层及多个贯穿结构。第一叠层设置在周边区中。第一叠层包括交替叠层的多个导电层及多个绝缘层。贯穿结构分别包括一开口、一介电层及一通道材料。开口穿过第一叠层。介电层设置在开口的一侧壁上。通道材料设置在开口中,并覆盖介电层。 |
申请公布号 |
CN106560927A |
申请公布日期 |
2017.04.12 |
申请号 |
CN201510634732.0 |
申请日期 |
2015.09.30 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
陈士弘 |
分类号 |
H01L27/11556(2017.01)I;H01L27/11582(2017.01)I |
主分类号 |
H01L27/11556(2017.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
任岩 |
主权项 |
一种存储器结构,包括:一第一芯片,具有一阵列区及一周边区,该第一芯片包括:一第一叠层,设置在该周边区中,该第一叠层包括交替叠层的多个导电层及多个绝缘层;以及多个贯穿结构,分别包括:一开口,穿过该第一叠层;一介电层,设置在该开口的一侧壁上;及一通道材料,设置在该开口中,并覆盖该介电层。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区力行路16号 |