发明名称 |
用于检测过程流体的物理变量的压力变送器 |
摘要 |
一种用于检测过程流体的物理变量的压力变送器(100),其包括:适于与过程流体交接的分离隔膜(9)和测量隔膜(2)。所述压力变送器包括定位在测量室中的测量磁路并且包括:第一磁芯(41)和第二磁芯(42),所述第二磁芯与第一磁芯分开并且处于相对于测量隔膜固定的位置处。所述磁路的第一和第二磁芯通过气隙(X)而相互分开,所述气隙根据由测量隔膜响应于施加的参考压力(PR)和过程压力(PP)来执行的弯曲运动而变化。 |
申请公布号 |
CN206095501U |
申请公布日期 |
2017.04.12 |
申请号 |
CN201620703151.8 |
申请日期 |
2016.07.06 |
申请人 |
ABB技术股份公司 |
发明人 |
G·萨尔达里尼;A·波兹;E·沃隆特里奥;R·帕拉维西尼 |
分类号 |
G01L9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01L9/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
王其文 |
主权项 |
一种用于检测过程流体的物理变量的压力变送器(100),其特征在于,所述压力变送器包括:‑分离隔膜(9),所述分离隔膜响应于施加的压力而挠曲,所述分离隔膜适于与所述过程流体交接;‑用于测量压力的测量装置(10),所述测量装置包括:‑支撑体(11),所述支撑体成形为限定内腔(12);‑测量隔膜(2),所述测量隔膜响应于施加的压力而挠曲,所述测量隔膜定位在所述内腔的内部,以便将所述内腔分成测量室(12A)和交接室(12B),所述测量室具有处于预定的参考压力(PR)下的内部容积,所述测量隔膜包括彼此相对的第一表面(21)和第二表面(22),所述测量隔膜布置成使得所述参考压力(PR)在所述第一表面(21)处被施加至所述测量隔膜,所述测量隔膜与所述分离隔膜操作地联接,使得由所述过程流体施加在所述分离隔膜(9)上的过程压力(PP)被传递至所述测量隔膜的第二表面(22);‑测量磁路(4),所述测量磁路定位在所述测量室中并且包括:第一磁芯(41),所述第一磁芯在所述测量隔膜的第一表面(21)处与所述测量隔膜(2)整体连接;和第二磁芯(42),所述第二磁芯与所述第一磁芯分开并且处于相对于所述测量隔膜固定的位置中,所述第一磁芯和第二磁芯通过气隙(X)而相互分开,所述气隙根据由所述测量隔膜随着响应于施加的所述参考压力(PR)和过程压力(PP)来执行的弯曲运动而变化。 |
地址 |
瑞士苏黎世 |