发明名称 Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N基紫外探测器及制备方法
摘要 一种AlxGa1‑xN基紫外探测器及制备方法,该Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N基紫外探测器,包括:一衬底,所述衬底的材料为蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓或砷化镓;一N型欧姆接触层,该N型欧姆接触层制作在衬底上;一有源层,该有源层制作在N型欧姆接触层上的一侧,该N型欧姆接触层上的另一侧形成一台面;一P型欧姆接触层,该p型欧姆接触层制作在有源层上;一重掺P型欧姆接触盖层,该重掺p型欧姆接触盖层制作在p型欧姆接触层上;一P型欧姆接触透明电极,该P型欧姆接触透明电极制作在重掺P型欧姆接触盖层上;一N型欧姆接触电极,该N型欧姆接触电极制作在N型欧姆接触层的台面上;一P型加厚电极,该P型加厚电极制作在P型欧姆接触透明电极上,其面积远小于P型欧姆接触透明电极的面积。
申请公布号 CN105374903B 申请公布日期 2017.04.12
申请号 CN201510967933.2 申请日期 2015.12.22
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 赵德刚;李晓静;江德生;刘宗顺;朱建军;陈平
分类号 H01L31/18(2006.01)I;H01L31/0304(2006.01)I;H01L31/101(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 任岩
主权项 一种Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N基紫外探测器,包括:一衬底,所述衬底的材料为蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓或砷化镓;一N型欧姆接触层,该N型欧姆接触层制作在衬底上,该N型欧姆接触层的材料为N型Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N,其中x≥0,其厚度为0.5‑5μm,电子浓度大于1×10<sup>18</sup>cm<sup>‑3</sup>;一有源层,该有源层制作在N型欧姆接触层上的一侧,该N型欧姆接触层上的另一侧形成一台面,该有源层的材料为本征Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N,其中x≥0,电子浓度小于1×10<sup>17</sup>cm<sup>‑3</sup>,并且调节生长条件,控制残余碳杂质的浓度小于等于5×10<sup>16</sup>cm<sup>‑3</sup>;一P型欧姆接触层,该p型欧姆接触层制作在有源层上;一重掺P型欧姆接触盖层,该重掺p型欧姆接触盖层制作在p型欧姆接触层上;一P型欧姆接触透明电极,该P型欧姆接触透明电极制作在重掺P型欧姆接触盖层上;一N型欧姆接触电极,该N型欧姆接触电极制作在N型欧姆接触层的台面上;一P型加厚电极,该P型加厚电极制作在P型欧姆接触透明电极上,其面积远小于P型欧姆接触透明电极的面积。
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