发明名称 |
光电转换装置及其测试方法和成像系统及其制造方法 |
摘要 |
本公开涉及光电转换装置、成像系统、光电转换装置测试方法和成像系统制造方法。光电转换装置包括:像素阵列,包含以矩阵布置的多个像素;包含多个对的多个块,每个对包含与像素阵列中的列对应地设置的比较器和与比较器对应地设置的存储器;以及块信息供给单元,被配置为向包含于块中的多个存储器供给指示块位置的块信息。 |
申请公布号 |
CN103716554B |
申请公布日期 |
2017.04.12 |
申请号 |
CN201310460127.7 |
申请日期 |
2013.09.30 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
樋山拓己;中村恒一;山崎和男;齐藤和宏 |
分类号 |
H04N5/335(2011.01)I;H04N5/378(2011.01)I |
主分类号 |
H04N5/335(2011.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
罗银燕 |
主权项 |
一种光电转换装置,包括:像素阵列,包含以矩阵布置的多个像素;多个块,每个块包含A/D转换单元,其中,A/D转换单元包含分别与像素阵列中的列对应地设置的比较器和分别与比较器对应地设置的存储器;以及块信息供给单元,被配置为向包含于块中的存储器供给块信息,所述块信息是用于区分从所述多个块之中的哪个块读取信号的信息,其中,块信息供给单元包括信号线组,所述信号线组包含多个信号线,以及其中,以与用于包含于另一块中的存储器的连接图案不同的连接图案,包含于一个块中的存储器与信号线组连接。 |
地址 |
日本东京 |