| 发明名称 | 测量系统 | ||
| 摘要 | 一种测量系统，所述测量系统：具有用于产生磁场的磁体装置，具有用于检测所述磁场至少在第一空间方向(y)上的磁通密度(By)的磁场传感器，其中，所述磁场传感器相对于所述磁体装置固定地定位，其特征在于，所述磁体装置具有用于产生主磁场的至少两个主极和用于产生旁磁场的至少两个旁极；在所述磁场传感器中，所述磁场通过所述主磁场与所述旁磁场的叠加构成；所述磁场传感器构造用于，在所述第一空间方向(y)上测量所述叠加的磁通密度(By)；在所述磁场传感器中，所述旁磁场在所述第一空间方向(y)上至少部分地补偿所述主磁场。 | ||
| 申请公布号 | CN104142482B | 申请公布日期 | 2017.04.12 |
| 申请号 | CN201410191537.0 | 申请日期 | 2014.05.07 |
| 申请人 | 迈克纳斯公司 | 发明人 | K·黑贝勒;J·弗兰克;O·布赖特维泽尔;T·考夫曼 |
| 分类号 | G01R33/02(2006.01)I;G01R33/07(2006.01)I | 主分类号 | G01R33/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 曾立 |
| 主权项 | 一种测量系统，所述测量系统：具有用于产生磁场的磁体装置(20，50，60)，具有用于检测所述磁场至少在第一空间方向(y)上的磁通密度(By)的磁场传感器(31，32)，其中，所述磁场传感器(31，32)相对于所述磁体装置(20，50，60)固定地定位，其特征在于，所述磁体装置(20，50，60)具有用于产生主磁场的至少两个主极(N<sub>H</sub>，S<sub>H</sub>)和用于产生旁磁场的至少两个旁极(N<sub>N1</sub>，S<sub>N1</sub>，N<sub>N2</sub>，S<sub>N2</sub>，N<sub>N3</sub>，S<sub>N3</sub>)；在所述磁场传感器(31，32)中，所述磁场通过所述主磁场与所述旁磁场的叠加构成；所述磁场传感器(31，32)构造用于，在所述第一空间方向(y)上测量叠加的磁通密度(By)；在所述磁场传感器(31，32)中，所述旁磁场在所述第一空间方向(y)上至少部分地补偿所述主磁场。 | ||
| 地址 | 德国弗赖堡 | ||