发明名称 Leistungszustandabdeckungsmessgrösse und Verfahren zu dessen Schätzung
摘要 In einigen Ausführungsformen werden in einem Verfahren zum Schätzen einer Gesamt-Leistungszustandsabdeckung eines Electronic System Level(ESL)-Modells, das durch mindestens einen Prozessor ausgeführt wird, ein erster Wert und ein zweiter Wert für jeden Block eingestellt. Mindestens ein Verifizierungsfall wird für jeden Block in dem ESL-Modell ausgewählt. Für jeden des mindestens einen Verifizierungsfalls: (a) wird ein Soll-Abdeckungswert eingestellt, (b) wird eine Register Transfer Level(RTL)-Simulation ausgeführt, (c) wird ein Ist-Abdeckungswert empfangen, und (d) wird der erste Wert oder der zweite Wert auf der Basis dessen aktualisiert, ob der Ist-Abdeckungswert kleiner ist als der Soll-Abdeckungswert oder nicht. Eine Leistungszustandsabdeckung wird für jeden Block berechnet. Die Gesamt-Leistungszustandsabdeckung wird für das ESL-Modell berechnet.
申请公布号 DE102016117171(A1) 申请公布日期 2017.04.06
申请号 DE201610117171 申请日期 2016.09.13
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 发明人 John, Stanley;Goel, Sandeep Kumar;Huang, Tze-Chiang;Lee, Yun-Han
分类号 G06F17/50 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
主权项
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