发明名称 Verfahren zum Justieren eines Mikroskops und Mikroskop mit Einrichtung zum Justieren des Lichtstrahls
摘要 Verfahren zum Justieren von mindestens einem Abschnitt eines Lichtstrahls (1) in einem Mikroskop (15), wobei der Abschnitt durch ein justierbares optisches Bauteil (76) und einer Position, an der eine Einrichtung (70) zum Justieren angebracht ist, definiert ist, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte: – Anbringen der Einrichtung (70) zum Justieren an dem Mikroskop (15) an eine von mehreren möglichen Positionen (160, 161, 162, 163) für die Einrichtung (70) zum Justieren; – Einkoppeln des Lichtstrahls (1) des Mikroskops (15) an der Position, an der die Einrichtung (70) zum Justieren angebracht ist, in die Einrichtung (70) zum Justieren des Lichtstrahls (1), wobei ein Einkoppellichtstrahl (9) in der Einrichtung (70) erzeugt wird; – Lenken des Einkoppellichtstahls (9) auf mindestens zwei Photodetektoren (10, 22), wobei die Photodetektoren (10, 22) jeweils unterschiedlich von der Position beabstandet sind; – Ermitteln der Abweichung des Einkoppellichtstahls (9) von einer Soll-Position (72) aus den elektrischen Signalen der Photodetektoren (10, 22) und – Verstellen des optischen Bauteils (76) über mindestens ein Stellelement (78), um den Einkoppellichtstahl (9) in die Soll-Position (72) zu bringen.
申请公布号 DE10111824(B4) 申请公布日期 2017.04.06
申请号 DE2001111824 申请日期 2001.03.13
申请人 Leica Microsystems CMS GmbH 发明人 Birk, Holger, Dr.;Engelhardt, Johann, Dr.
分类号 G02B21/00;G02B26/08;G02B7/00;G02B21/06;G02B21/24 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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