| 摘要 |
Integrierter Schaltungschip umfassend: einen chipinternen Speicher (110, 340); und eine Testschaltung (100, 120 bis 150; 200 bis 265; 300 bis 330, 350), die ausgebildet ist, eine Funktionsprüfung des chipinternen Speichers auszuführen; wobei die Testschaltung eine Steuerung (100, 350) aufweist, die ausgebildet ist, eine Auswahl aus mehreren Testalgorithmen zum Durchführen der Funktionsprüfung auszuführen; wobei die mehreren Testalgorithmen einen Fehlererkennungstestalgorithmus zum Ausführen einer Funktionsprüfung des chipinternen Speichers enthalten, um zu erkennen, ob es einen Speicherfehler gibt, ohne dass der Speicherfehler lokalisiert wird, wobei die mehreren Testalgorithmen ferner einen Fehlerlokalisierungstestalgorithmus enthalten, um die Funktionsprüfung des chipinternen Speichers auszuführen, um einen Speicherfehler zu erkennen und zu lokalisieren, und wobei die Steuerung ferner ausgebildet ist, eine Algorithmussequenzierung auszuführen, indem mindestens ein Fehlererkennungstestalgorithmus und mindestens ein Fehlerlokalisierungstestalgorithmus in softwarekonfigurierbarer Reihenfolge ausgeführt werden. |
