| 发明名称 | 一种基于电流比较的位扫描方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种基于电流比较的位扫描方法和系统，其中，所述方法包括：接收待检测电流的输入；获取所述待检测电流经由第一支路输出的第一输出结果；其中，所述第一输出结果根据所述待检测电流与所述第一支路中的NMOS管输出的第一电流之间的差值确定；若根据所述第一输出结果确定所述编程失败，则返回重新接收所述待检测电流的输入；获取所述待检测电流经由第二支路输出的第二输出结果；其中，所述第二输出结果根据所述待检测电流与所述第二支路中的电流控制模块输出的第二电流之间的差值确定；根据所述第二输出结果确定编程失败的位数。通过本发明解决了目前位扫描检测精度低、准确性差的问题。 | ||
| 申请公布号 | CN106558345A | 申请公布日期 | 2017.04.05 |
| 申请号 | CN201510624843.3 | 申请日期 | 2015.09.25 |
| 申请人 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 发明人 | 苏志强;丁冲;陈立刚;谢瑞杰 |
| 分类号 | G11C16/34(2006.01)I | 主分类号 | G11C16/34(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人 | 苏培华 |
| 主权项 | 一种基于电流比较的位扫描方法，其特征在于，包括：接收待检测电流的输入；获取所述待检测电流经由第一支路输出的第一输出结果；其中，所述第一输出结果根据所述待检测电流与所述第一支路中的NMOS管输出的第一电流之间的差值确定；若根据所述第一输出结果确定所述编程失败，则返回重新接收所述待检测电流的输入；获取所述待检测电流经由第二支路输出的第二输出结果；其中，所述第二输出结果根据所述待检测电流与所述第二支路中的电流控制模块输出的第二电流之间的差值确定；根据所述第二输出结果确定编程失败的位数。 | ||
| 地址 | 100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层 | ||