发明名称 |
离线定位图像传感芯片连续坏点的方法 |
摘要 |
本发明提供了一种离线定位图像传感芯片连续坏点的方法,包括以下步骤:获取被测图像传感芯片的一帧测试图像,并存储于一离线终端上;将所述测试图像转换为一第一二进制图像;获取所述测试图像中行连续坏点的位置及相应坏点的个数;获取所述测试图像中列连续坏点的位置及相应坏点的个数;获取所述被测图像传感芯片上连续坏点的位置及个数;N为自然数。通过测试机台获取一帧测试图像后,将所述测试图像存储于一离线终端上,分别获取所述测试图像中行、列连续坏点的位置及个数,从而得到被测图像传感芯片上的所有连续坏点的位置及个数,提高所述测试图像中连续坏点的定位速度,且不占用在线测试资源,提高了测试效率。 |
申请公布号 |
CN104599995B |
申请公布日期 |
2017.04.05 |
申请号 |
CN201510019415.8 |
申请日期 |
2015.01.14 |
申请人 |
上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
发明人 |
余琨;牛勇;汤雪飞;徐惠;叶建明 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
周耀君 |
主权项 |
一种离线定位图像传感芯片连续坏点的方法,其特征在于,包括以下步骤:获取被测图像传感芯片通过测试得到的一帧测试图像,并将所述测试图像存储于一离线终端上;将所述测试图像中的坏点进行标记得到一第一二进制图像;获取所述测试图像中有(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数;获取所述测试图像中有(N+1)个及以上列连续坏点的位置及相应坏点的个数;获取所述被测图像传感芯片上有(N+1)个及以上连续坏点的位置及个数;其中,N为自然数。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江郭守敬路351号2号楼2楼 |